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2024-11-25
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SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特
熱刺激理論是在介質物理的基礎上發展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質（如電介質、絕緣材料、半導體、駐極體等）的微觀參數，熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數（如活化能h、松弛時間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數。因為熱刺激電流與材料的
TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。 模塊化設計的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優異的擴展性，提供高達15中測試功能
TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。
ZJ-4型靜壓電D33電壓電流測試儀是一款在原來的設備基礎上，額外增加了電壓和電流采集系統的功能，該功能主要是針對壓電PVDF薄膜，在不同的運動和力的變化條件下，測試其壓電性能變化，是研究壓電薄膜性能的重要設備。也是本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產、應用與研究部門的儀器。 二、參考標準: GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測試方法 縱向壓電應變常數d33的靜態測試》GB/T3389.5-
JKZC-YDZK03B型壓電介電阻抗分析儀是一款可以跟PC鏈接測試功能的壓電介電阻抗分析儀，內置±12 V，±24V直流電壓，可以量測壓電/超聲器件之導納圓繪圖，電容/半導體材料/變容二級管量測DC偏壓特性(C-V 曲線)，高分子材料/介質材料/電化學阻抗測量介電常數εr，采用自動平衡技術，測試數據可靠，滿足目前試驗測試要求，解決了目前測試壓電D33系數，又要測試壓電阻抗的系列問題，為材料研究測
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