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2026-03-25
+2025-03-21
+2024-11-13
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HLDT-400型高低溫介電溫譜測試儀適用于電介質材料介電溫譜、阻抗譜、頻譜掃描的測試。系統軟件將高低溫測試箱、高低溫測試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設備無縫連接，測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數，通過計算獲得復介電常數、電模量等參數，直接得出材料的介電溫譜、頻譜、阻抗譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測量，同時輸出，測量效率高，數據
HTIM-1000高溫絕緣電阻測試儀 儀器簡介： 高溫絕緣電阻測試儀器運用三電極法設計原理測量。利用三電極測試系統，重復性與穩定性好，提高了夾具的抗擾能力，同時大大提高準確度也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途。 高溫電阻率測試儀采用自主開發電子保護系統，提高了設備的an全性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用的SPWM電子升壓技術，電壓輸出穩定性好。配備電壓、電流傳感器以
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統，實現了是以往產品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環境影響進行穩定測量，并且運用在產線中實現高速測量。可實現絕緣材料
TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀，即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜（或塊材）電阻率和磁阻的測量，也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量，是研究薄膜材料電阻和磁阻變化特性的重要儀器，對于先進材料應用和開發有著重要意義。
HTIM-1001A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料，液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。
HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能。采用芯片控 AD制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，配備 英寸觸摸屏， 10軟件可保存和打印數據，自動生成
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