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2026-02-04
+2026-01-29
+2025-12-01
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詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
關鍵詞:Hfo2, 鉿基鐵電,鐵電薄膜，疲勞，電滯回線
一、產品介紹：
HFO-100型鉿基鐵電薄膜測試儀是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。可以進行電致應變測試，可以蝴蝶曲線功能，設備還可以擴展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。鐵電材料的大規模應用源自鈣鈦礦結構鈦酸鋇鐵電體的發現，直到今日鈣鈦礦鐵電體仍然是無機鐵電體中的主流。然而，在微納電子應用中，與 CMOS 工藝更兼容的鉿基鐵電薄膜逐漸成為研究熱點。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產、應用與研究部門的重要設備之一，已經在各大高校和科研院所廣泛使用。
二、氧化鉿鐵電材料的崛起
傳統的鈣鈦礦類鐵電材料由于尺寸難以進一步縮小，已經難以滿足現代集成電路對高密度與高集成度的需求。而氧化鉿（HfO?）基鐵電材料憑借其的微縮能力和與現有CMOS工藝的兼容性，成為近年來鐵電研究的熱點材料。氧化鉿材料的出現標志著鐵電材料從傳統邁向現代，開啟了存儲器應用的新紀元。
主要功能：
■高存儲密度：單個存儲單元由一個晶體管構成，可實現高密度集成；
■低功耗：極化翻轉所需能量低于傳統存儲器；
■高速性：操作速度小于20納秒，適合實時性要求高的應用場景；
■非破壞性讀取：避免數據讀取過程中對存儲狀態的破壞，提高整體存儲效率。
二、主要技術指標：
1、輸出信號電壓：：±100 V可擴展電致應蝴蝶曲線功能
2、溫度；室溫-200℃，控溫精度：±1℃
3、控制施加頻率0.01到1KHz（陶瓷、單晶，薄膜）PC端軟件控制自定義設置；
4、控制輸出電流0到±50mA連續可調，PC端軟件控制自定義設置。
5、動態電滯回線測試頻率范圍 0.01Hz-1kHz
7、最小脈寬保持時間為20us;最小上升沿時間為10us;
8、疲勞測試頻率500kHz（振幅10 Vpp，負載電容1 nF）；
9、測試速度：測量時間《5秒/樣品•溫度點
10、樣品規格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm，厚度0.1-10mm
11、主要功能： 動態電滯回線DHM，靜態電滯回線SHM，I-V特性，脈沖PUND，疲勞Fatigue，電擊穿強度BDM，漏電流LM，電流-偏壓，保持力RM，
10. 電荷解析度不小于10 mC;
漏電流測量范圍:1pA~ 20 mA，分辨率不低于0.1pA;
12、控制方式：計算機實時控制、實時顯示、實時數據計算、分析與存儲
13、軟件采集：自動采集軟件，分析可以兼容其他相關主流軟件。
14、測試精度：±0.05%
15、內置電壓：±20V
16、可增模塊：
印跡印痕IM
變溫測試THM
POM 模塊實現極化測量功能
CVM模塊實現小信號電容測試，獲得C-V曲線
PZM模塊實現壓電特性測試
DPM模塊測試介電性能
RTM模塊測試電阻/電阻率性能
CCDM模塊實現電容充放電測試。
17、探針臺(選配)：
規格/參數 | |||||||
型號 | MPS-4 | MPS-6 | MPS-8 | MPS-12 | |||
電力需求 | 220VC,50-60HZ | ||||||
樣品臺 | 尺寸 | 4寸 | 6寸 | 8寸 | 12寸 | ||
行程 | XY行程50mm，Z軸升降60mm，360°旋轉可鎖緊 | ||||||
移動精度 | 標配10μm，可升級（5μm，3μm，1μm） | ||||||
背電極測試功能 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | 可以引出電極 | |||
定制模塊 | 可定制位移行程和精度 | 可定制位移行程和精度 | 可定制位移行程和精度 | 可定制位移行程和精度 | |||
探針調整座 | XYZ行程 | 13mm-13mm-13mm | |||||
機械精度 | 標配10μm，可升級（5μm，3μm，1μm） | ||||||
漏電精度 | 10pA-100fA（配置屏蔽箱） | ||||||
安裝方式 | 直接磁力吸附/可調磁力吸附/真空吸附 | ||||||
接口形式 | 香蕉插頭/鱷魚夾/同軸BNC/三同軸BNC | ||||||
光學成像 | 放大倍數 | 7-200倍（最大可升級到720倍） | |||||
CCD像素 | 500W（可升級200W） | ||||||
中心距離 | 140mm，升降范圍270mm，總高度350mm | ||||||
顯示器 | 8寸顯示器，將3-17mm的樣品放大到整個屏幕（可升級大尺寸顯微鏡） | ||||||
可選附件 | 加熱卡盤 | 高低溫卡盤 | 鍍金卡盤 | ||||
隔振支架 | 積分球測試選件 | 屏蔽箱 | |||||
射頻測試附件 | 導入光源支架 | 波長單色可調光纖光源（測光電流） | |||||
顯微鏡調節手動/電動調節裝置 | 激光切割顯微鏡 | 轉接頭配件 | |||||
美國TF-2000測試數據對比圖
美國TF-2000測試數據對比圖
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