JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀

(一) JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀簡介

　　JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測試儀為用于金屬材料的電阻可視化檢測設計，由于銀、銅、金、鋁等具有較好導電性，這些金屬材料在日常使用體積范圍時其電阻值就已經很低，通過下圖可對其有簡單概念，當金屬材料為長度10cm絲材時，1mΩ材料電阻值對應的材料截面積(圖中數值為直徑，單位mm)示意圖：

當材料導電截面積更大時電阻值更低，測試儀主要針對這類低電阻測試進行優化，對純金屬及其合金材料的導電性(電阻/電阻率/電導率)、進行高精度、連續監測，并在此基礎上對電阻溫度系數(電阻-溫度關系)、 電阻應變靈敏系數(電阻-力關系)、接觸壓力-接觸電阻關系等衍生出不同用途的測量系統。測試系統由實驗架臺(或夾具)、測試機箱、計算機、測控軟件等組成。

測試儀測量范圍能到MΩ，也可用于部分半導體材料的測量。測量對象包括純金屬或合金的絲材、帶材、管材、片材等具有規則截面積的導體或半導體，樣品也包括厚膜及薄膜導電膜，及可使用四端點測試夾具的半導體塊體材料。

　　由于電阻率是材料的基本屬性，與材料純度有緊密關系，除用于導電性測量外，也可以做為材料純度的物理判定手段之一。是目前金屬材料研究的科研設備 。

配用夾具

絲帶材檢測夾具：用于直徑1mm以下的細絲及窄薄帶材測量，夾頭鍍金，檢測長度可調，樣品快速裝夾絲帶材檢測夾具：用于直徑1mm以下的細絲及窄薄帶材測量，夾頭鍍金，檢測長度可調，樣品快速裝夾

細絲檢測夾具：用于直徑0.1mm以下的超細絲測量，夾頭鍍金，檢測長度固定，樣品快速裝夾

四探針檢測頭：單邊線四探針檢測探頭，間距1mm，用于薄膜、厚膜及半導體電阻率測量

帶材檢測夾具：用于厚1mm、寬20mm以下的帶材測量，檢測長度固定，夾頭鍍金，檢測長度可調，快速裝夾配用軟件

（二）參考標準：

　GB/T 351-2019 金屬材料電阻率測量方法

　GB/T 6146-2010 精密電阻合金電阻率測試方法
　GB/T 3048.2-2007 電線電纜電性能試驗方法 第2部分：金屬材料電阻率試驗

（三）主要特點

1. 四線法電阻測試，消除接觸電阻和引線電阻誤差

2. 軟件同步顯示檢測輸出時基曲線，測試效果一目了然

3. 高精度恒流源，帶最大電流限制，避免自熱效應，保障測量精度

4. 軟件中可同時進行數據采集和數據處理，結果可打印，數據可導出

（四） 主要技術指標

（四）金屬導電性

金屬材料由于晶格間具有可自由移動的電子，均具有良好的導電性能，按照導電性能排序，一些常用材料的參數如下表：

* 主要數據來源《二元合金狀態圖集》《貴金屬》等，環境溫度為20℃

電阻率計算

電阻率為材料的固有特性之一，絲材或截面積均勻的金屬可以利用下面的公式計算電阻/電阻率：

軟件幾個主要界面，雙擊可顯示原圖。

（五） 相關資料

四端法電阻測量

　　四端法也稱為四線法或開爾文法，指的是用一對導線連接一電流源，另一對導線將被測電阻的電壓引入數字多用表進行測量，其測試原理如下圖所示 ：

Ux為對應測試點得到的電壓信號， R1、R3、R4、R6分別為四段測量導線的電阻值及與樣品的接觸電阻，R2、R5為電源(I+/I-)導線端與測量(U+/U-)導線端間的樣品電阻， 由于測量端放大器輸入阻抗遠大于被測電阻Rx， 而R3、R4較小，測量導線上的壓降可以忽略不計，R1、R2、R5、R6雖然在測試電流回路中，但測量僅以測量端為準，其壓降不會出現在測量結果中。 因而，四端法測電阻能夠消除接觸電阻和引線電阻的影響。