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  • JKLR-420E型高低溫半導體冷熱臺
    JKLR-420E型高低溫半導體冷熱臺 JKLR-420E型冷熱臺是為液晶研究而設計的。為了給樣品施加電場或測量樣品的信號,在常規冷熱臺的基礎上增加了內部電極,并配有液晶池和載物臺。同時由于熱臺腔室的密閉性,可以控制腔室內的環境氛圍,如濕度...
  • JKLR-420高低溫半導體冷熱臺
    JKLR-420高低溫半導體冷熱臺 JKLR-420高低溫半導體冷是可以使用顯微鏡載物片載樣,且容易使用的通用型冷熱臺。此系列冷熱臺為大區域冷熱臺,主要用于等溫分析,不需要非常高的加熱和冷卻速率,溫度的熱穩定性優于0.1°C。...
  • JKLR-120型顯微鏡冷熱臺
    JKLR-120型顯微鏡冷熱臺 JKLR-120型冷熱臺是全功能配置、即插即用的冷熱臺系統,由珀耳帖冷熱臺、溫度控制器和循環水泵組成。冷卻過程不需要液氮,使用循環水即可以達到-25°C(如果循環水溫度為5°C,則...
  • JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統
    JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統 JKZC-JDS04型材料介電常數介質損耗測試系統是一款專用介電常數介質損耗測試系統由S916測試裝置(夾具)、高頻Q表、數據采集和tanδ自動測量控件、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1...
  • SMDR-1600型1600℃超高溫導熱儀
    SMDR-1600型1600℃超高溫導熱儀 SMDR-1600型超高溫導熱儀|導熱系數測試儀主要測試含碳耐火材料,石墨氈,碳氈,石墨等靜壓碳棒等低導熱系數材料的導熱系數。該儀器基于熱流計法的原理,兼配GB/T10295等相關國標要求,測試溫度高...
  • SMA-100A型飽和磁性分析儀
    SMA-100A型飽和磁性分析儀 在科研、國防和生產實踐中,經常需要對各種材料磁性進行研究和檢測,特別是急需有適應性強、靈敏度高、準確可靠、使用方便的磁測儀器。隨著科學的發展,對儀器又提出了測量自動化智能化的要求,SMA-100A型飽...
  • TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀
    TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀 TFRT-300型薄膜變溫電阻測試儀是一款多用途的電阻測試儀,即可應用于金屬、半導體、導電高分子薄膜(或塊材)電阻率和磁阻的測量,也可以應用于鐵磁/非鐵磁/鐵磁三層或多層薄膜的磁電阻測量,是研究薄膜材...
  • 新D33測試儀兼容搭載D33空間夾具
    新D33測試儀兼容搭載D33空間夾具 ZJ-3型壓電測試儀(準靜態d33測量儀)、PVDF壓電薄膜測試儀,D33系數共面夾具,D33系數空間夾具關鍵詞:壓電,陶瓷材料,高分子,d33/d15,共面夾具,空間夾具
  • HTIM-1001A高溫電阻測試儀
    HTIM-1001A高溫電阻測試儀 HTIM-1001A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
  • 高溫電阻測試儀I電阻率I電阻三合一
    高溫電阻測試儀I電阻率I電阻三合一 HTIM-1000A高溫電阻測試儀采用四端測量方法在高溫環境下對導電及半導電材料的電阻進行評估,適用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料在高溫、真空及氣氛條件下測量的一種重...
  • 常用的壓電材料及D33測試儀(PZT/PVDF)
    常用的壓電材料及D33測試儀(PZT/PVDF) 常用的壓電材料及D33測試儀(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF)常用的壓電材料及測試儀器有以下幾種(PZT, ZrO2, Nb2O5, PVDF):1.鉛鋯鈦酸鋇(PZT):PZT是常用的...
  • BKTEM-DX型熱電性能測試平臺
    BKTEM-DX型熱電性能測試平臺 BKTEM-DX型熱電性能測試平臺是一種用于熱電器件(TEGs)溫度相關轉換效率評估的測量系統。該模塊位于熱板和冷板之間,其中熱板連接到可調節加熱器,冷板連接到恒溫控制的液冷散熱器。通過集成的電機自動...
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